存儲器IC測試儀。對DRAM異常狀況、SIMM研究、SRAM、VRAM應用創新、及PCMCIA卡提供即時的功能分析測試深化涉外。提供多種測試模式。
zui高容量64MB生產製造，zui寬144位開展試點，且成本低廉全可編程。  

主要功能：  

    IST6500型存儲器功能參數(shù)測試儀
在2NS基頻下共同，提供四種方法自動測試存取時間 在2NS到160NS的各種器件（DRAM定時參數(shù)可編程提供1NS的基頻）從而實現(xiàn)實時測試推進一步。
兼?zhèn)溆懈咚匐p通道閾值比較器的可編程動態(tài)加載，允許用戶編程DUT輸出口負載簡單化，以達到一個寬的工作范圍力度。這一特性在SIMN器件測試鐘尤其重要，因為后者須經(jīng)常驅(qū)動系統性，大容量小電阻的負載勇探新路。 

　　6500通過RS-232與PC機接口，器機械手接口具有“料箱排序”功能傳遞，可將器件按照選定的工作參數(shù)進行排序試驗，這在工程元件特性或GO/NO GO測試中很具有典型意義。 IST6500易于編程開展攻關合作，且存儲有100個不同的用戶自定義測試路徑製度保障，提供了器件的各種工作參數(shù)包括存取時間，工作電流的有效手段，備用電流統籌推進，數(shù)據(jù)保持電流，輸出負載關鍵技術，DUT電流源了解情況，定時參數(shù)，測試模式及邏輯閾值的自動引導測試或GO/NO GO測試技術研究，同時引導GO/NO GO 測試的參數(shù)的預置極限也可存儲在程序里重要的。 

　　6500具備一系列完善的存儲測試模式，并向用戶提供短/長兩種測試模式結論，它能在zui短的時間內(nèi)完成絕大多數(shù)RAM指標的檢測部署安排。數(shù)據(jù)測試模式包括：
全1搖籃，全0，方格噪聲模式推廣開來，步1推動，步0，列干擾資源配置，滑動斜行信息，移動倒置，這些模式能檢測存儲器芯片上及其他地址上的短路大力發展，開路或單值錯誤豐富內涵，也能檢測芯片干擾，信號轉(zhuǎn)換放大器干擾及噪聲靈敏度錯誤產能提升。 

主要性能指標：  

　　*可測試DRAM適應性，SRAM，SIMN通過活化，VRAM器件（容量可高達64MB）的同步電流落地生根，輸出驅(qū)動，閾電壓健康發展，電源邊界參數(shù)有效保障。
*DRAM定時參數(shù)測試可以編程到1NS或“自動定時尋找”。
*提供刷新測試長效機製，基本講實踐，快速檢測，密集或用戶定義的測試模式奮戰不懈。
*錯誤停止/錯誤步進市場開拓，顯示錯誤地址及錯誤位。
*測試回路內(nèi)部自動轉(zhuǎn)換不需要位每個測試器件裝配分立模塊有所增加。
*通用主機及插入式家用模塊設(shè)計各項要求，可根據(jù)內(nèi)存器件的變化隨時進行擴充。
*支持DIP越來越重要的位置，ZIP，SOJ共同學習，SIP順滑地配合，PLCC，TSOP多種封裝效高。
*后備電池支持的RAM存儲了100個用戶程序逐漸顯現，用以各器件的特性的特性測試，因而提供 了“一次性操作”系統穩定性。
*配有232接口可獨立操作或與PC聯(lián)機操作拓展基地，也可連接機械手對器件分類篩選集中展示。
*自動參數(shù)的缺省值允許瞬時“單鍵”測試。
*測速高達0.9SEC/MB/模式的DMA高速硬件測試電路.